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    MTI Instruments手动半导体计量系统

    发布时间：2021-06-28 17:08:07     浏览：1459

    MTI Instruments晶圆测厚仪是一种基于电容的差分测量系统，它能够不接触地测量半导体和半绝缘晶圆的厚度。采用MTI推拉技术，MTI Instruments不需要具备相同电接地的晶片，从而为大多数晶圆类型提供了优良的精度和中继器。MTI Instruments系统包括完整的遥控操作软件和以太网网络接口功能。

    特性

    前端USB端口能够方便地将测量数据和其他数据存储在闪存;

    MTI仪器的专用电容器电路具有优良的精度和可靠性;

    非接触测量;

    直径76-300毫米晶圆范围;

    可选晶片测量环;

    精密定心用晶片块;

    以太网接口;

    完整的远程控制软件(Windows兼容);

    可选校准晶片;

    深圳市立维创展科技有限公司，优势直接渠道提供MTI Instruments订货服务，欢迎咨询。

    详情了解MTI Instruments 请点击：/brand/70.html

    或联系我们的销售工程师：0755-83050846   QQ: 3312069749 

     MTI Instruments.png

    P/N

    Model

    Measurement Range

    Accuracy

    Resolution

    Type

    Frequency Response





    8000-6760-001

    Proforma 300i

    1700?m (66.9mil/s)

    ±0.25 ?m

    0.05?m

    Desktop System

    16.6Hz





    8000-6760-002

    Proforma 300Gi

    1700?m (66.9mil/s)

    ±0.25 ?m

    0.05?m

    Desktop System

    16.6Hz





     

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